Аберрация — кривизна изображения (поля)

характеризуется тем, что изображение плоского объекта располагается на неплоской поверхности. Для наблюдения подобного изображения по полю требуется постоянная перефокусировка для получения резкого изображения рассматриваемого участка на поле.

Кривизна поля чаще всего задается при расчете оптической системы: чем меньше расчетная кривизна поля, тем сложнее оптическая схема. Исправленные расчетным путем оптические системы являются системой плоского поля или планоптикой.

Рис. 17.5. Тест-сетка для определения в изображении дисторсии на краю поля и кривизны по полю